Minimal Device Tester

Minimal Device Tester - Тестер с 4-мя щупами для измерения I-V и C-V характеристик.

Описание:

- Полностью управляем зонд на 5 контактов.
- Измерение внутри экранированной камере (заполненный N2), которая максимально снижает влияние шума и света.
- Данные координат можно импортировать из данных САПР.
- Возможно высокоточное измерение. (Измерение I-V, поддерживается измерение CV).
- Измерительный инструмент: анализатор полупроводникового измерителя мощности, встроенный измеритель LCR.